04、扫描式电子显微镜,其系统设计由上而下,由电子枪 (Electron Gun) 发射电子束,经过一组磁透镜聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后,用遮蔽孔径 (Condenser Aperture) 选择电子束的尺寸(Beam Size)后,通过一组控制电子束的扫描线圈,再透过物镜 (Objective Lens) 聚焦,打在样品上,在样品的上侧装有讯号接收器,用以择取二次电子 (Secondary...
一般常见的材料分析技术,不外乎想要得知试片的:(1)表面或材料内部的显微结构影像,此类的代表仪器包括扫描式电子显微镜(SEM)、穿透式电子显微镜(TEM)及原子力显微镜(AFM)等;(2)材料成份分析,此类的代表仪器包括X光能量散布分析仪(EDS)、表面化学分析仪(ESCA)、欧杰电子显微镜(AES)及二次离子质谱仪(SIMS)等; (3)材料结晶结构鉴定与分析,此类的代表仪器包括X光绕射分析仪(...
扫描式电子显微镜,其系统设计由上而下,由电子枪 (Electron Gun) 发射电子束,经过一组磁透镜聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后,用遮蔽孔径 (Condenser Aperture) 选择电子束的尺寸(Beam Size)后,通过一组控制电子束的扫描线圈,再透过物镜 (Objective Lens) 聚焦,打在样品上,在样品的上侧装有讯号接收器,用以择取二次电子 (Secondary...
硼酸锌的AFM 图成分分析在电子显微镜中,用于成分分析的信号是X-射线和背散射电子。X-射线是通过SEM 系统中的能谱仪(EDS)和波谱仪(WDS)来提供元素分析的。在SEM 中利用背散射电子所呈的背散射像又称为成分像。而在AFM 中不能进行元素分析,但它在PhaseIma ge 模式下可以根据材料的某些物理性能的不同来提供成分的信息。...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号