ASTM E1695-95(2006)e1
计算机层析X射线摄影(CT)系统性能测量的标准试验方法

Standard Test Method for Measurement of Computed Tomography (CT) System Performance


ASTM E1695-95(2006)e1 中,可能用到以下仪器设备

 

XDimensus 300测量用X射线CT系统

XDimensus 300测量用X射线CT系统

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

Bruker桌面型高能量X射线显微CT SkyScan 1273

Bruker桌面型高能量X射线显微CT SkyScan 1273

布鲁克衍射荧光事业部(AXS)

 

数字X射线摄影系统 RADspeed D-fit

数字X射线摄影系统 RADspeed D-fit

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

数字X射线摄影系统 RADspeed Pro80

数字X射线摄影系统 RADspeed Pro80

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

数字X射线摄影系统 RADspeed Pro50

数字X射线摄影系统 RADspeed Pro50

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

标准号
ASTM E1695-95(2006)e1
发布
1995年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM E1695-95(2013)
当前最新
ASTM E1695-20e1
 
 
影响 CT 图像质量的两个因素是几何不清晰度和随机噪声。几何不清晰度限制了 CT 系统的空间分辨率,即其对物体精细结构细节进行成像的能力。随机噪声限制了 CT 系统的对比灵敏度,即其检测物体中存在或不存在特征的能力。空间分辨率和对比敏感度可以通过多种方式测量。 ASTM 规定空间分辨率以调制传递函数 (MTF) 量化,对比敏感度以对比度辨别函数 (CDF) ...

ASTM E1695-95(2006)e1相似标准


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