ASTM E1735-95(2000)e1
测定工业射线照相成像系统从4到25兆电子伏的相对图像质量响应的标准实施规程

Standard Test Method for Determining Relative Image Quality of Industrial Radiographic Film Exposed to X-Radiation from 4 to 25 MV

被代替

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标准号

ASTM E1735-95(2000)e1

发布

1995年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E1735-07

当前最新

ASTM E1735-19

 

 

适用范围

1.1 本测试方法涵盖工业射线照相胶片暴露于光子能量为 4 至 25 MV 的 X 辐射源时的相对图像质量响应的测定。胶片的评估基于特殊图像质量指标 (IQI) 中孔的可见度。由于给定胶片类型的结果可能会有所不同，具体取决于所使用的特定处理系统，因此必须说明曝光参数、处理化学物质和处理周期。出于本测试方法的目的，假设 X 射线系统的所有组件都正常运行并且能够产生给定的图像质量。该测试方法不适用于使用钴 60 源或低于 4 MV 的 X 射线源曝光的胶片。
1.2 以 SI 或英寸-磅单位表示的数值应视为标准。括号中给出的值仅供参考。
1.3 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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