ASTM E521-96(2003)
用带电粒子照射法模拟中子辐射损害的规程

Standard Practice for Neutron Radiation Damage Simulation by Charged-Particle Irradiation

被代替

ASTM E521-96(2003) 发布历史

ASTM E521-96(2003)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 1996。

ASTM E521-96(2003) 在中国标准分类中归属于: F04 基础标准与通用方法。

ASTM E521-96(2003)的历代版本如下：

• 2016年 ASTM E521-16 使用带电粒子照射研究中子辐射损伤的影响的标准实践
• 1996年 ASTM E521-96(2009)e2 用带电粒子照射法模拟中子辐射损害的标准实施规程
• 1996年 ASTM E521-96(2009)e1 用带电粒子照射法模拟中子辐射损害的标准实施规程
• 1996年 ASTM E521-96(2009) 用带电粒子照射法模拟中子辐射损害的标准实施规程
• 1996年 ASTM E521-96(2003) 用带电粒子照射法模拟中子辐射损害的规程
• 1996年 ASTM E521-96 用带电粒子照射法模拟中子辐射损害的规程

带电粒子辐照实验的一个典型优点是精确、个性化地控制大多数重要的辐照条件，例如剂量、剂量率、温度和存在的气体数量。其他属性包括样本不存在诱导放射性激活，并且通常需要大幅压缩辐照时间（从数年到数小时），以达到以每原子位移 (dpa) 测量的可比损伤。此类实验的一个重要应用是研究尚不存在的环境（例如聚变反应堆）中的辐射效应。离子轰击的主要缺点源于损伤率或复杂合金中微观结构演化过程的温度依赖性，或两者兼而有之。不能假设通过增加位移速率，即使辐照温度发生相应变化，也可以相对压缩所有过程的损伤演化的时间尺度。此外，将损伤产生限制在照射表面下方的薄层（通常为 8764; 1 m）可能会带来严重的并发症。因此，必须强调的是，这些实验和实践旨在用于研究目的，而不是用于设备的认证或鉴定。该实践涉及使用带电粒子产生辐射引起的金属和合金的微观结构变化。实践 E 821.1.1 涵盖了使用带电粒子进行机械行为的研究。该实践为对金属和合金进行带电粒子辐照提供了指导。它通常仅限于使用停留在样品中的低穿透力离子进行的微观结构和微观化学变化的研究。可以直接测量密度变化，并可以推断其他特性的变化。该信息可用于估计中子辐照引起的类似变化。更一般地说，这些信息对于推断各种材料和辐照条件下辐射损伤的基本机制具有重要价值。

1.2 此处使用的“模拟”一词具有广义含义，意指相关中子辐照环境的近似值。一致性程度可以从很差到几乎完全一致。目的是在中子和带电粒子辐照的一个或多个方面之间建立对应关系，以便在辐照或材料参数与材料响应之间建立基本关系。

1.3 实践如下：第 4 节装置 4 样品制备 5-10 辐照技术（包括氦气）注射）11-12损伤计算13辐照后检查14-16结果报告17相关性和解释18-221.4本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

标准号

ASTM E521-96(2003)

发布

1996年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E521-96(2009)

当前最新

ASTM E521-16

 

 

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