ASTM B588-88(1994)
用双束干涉显微技术测量透明涂层或不透明涂层厚度的试验方法

Standard Test Method for Measurement of Thickness of Transparent or Opaque Coatings by Double-Beam Interference Microscope Technique

被代替

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标准号

ASTM B588-88(1994)

发布

1988年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM B588-88(2001)

当前最新

ASTM B588-88(2010)

 

 

适用范围

1.1 本测试方法涵盖利用双光束干涉显微镜测量透明金属氧化物和金属涂层的厚度。
1.2 本测试方法要求样品表面足够镜面以形成可识别的条纹。
1.3 本测试方法可以可无损地用于测量 1 至 10956； m 厚的透明涂层，例如铝上的阳极涂层。该测试方法破坏性地用于0.1至10 956;m厚的不透明涂层，通过剥离涂层的一部分并测量涂层和暴露的基材之间的台阶高度。剥离法也可用于测量铝上 0.2 至 10 956;m 厚的阳极氧化层。
1.4 当采用该技术时，本试验方法可作为测量铝或金属镀层阳极氧化膜厚度的参考方法。包括完全剥离一部分涂层而不侵蚀基材。对于铝上的阳极膜，厚度必须大于0.4 956;m；不确定性可高达 0.2 956;m。对于金属涂层，厚度必须大于0.25956;m；不确定度可能高达 0.1 956；m.1.5 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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