ASTM E307-72(2008)
升高温度时标准光谱发射的标准试验方法

Standard Test Method for Normal Spectral Emittance at Elevated Temperatures

被代替

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标准号

ASTM E307-72(2008)

发布

1972年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E307-72(2014)

当前最新

ASTM E307-72(2019)

 

 

适用范围

通过对该技术的局限性的讨论来体现其重要特征。通过本测试方法以下部分的描述和安排，仪器将直接记录样品的法向光谱发射率。然而，必须在可接受的公差范围内满足以下条件： 样本和黑体的有效温度彼此必须在 1 K 以内。然而，由于温度均匀性通常不优于几开氏度，因此出现了实际限制。两束光的光程长度必须相等，或者仪器应在非吸收性气氛或真空中工作，以消除两束大气吸收差异的影响。在许多情况下，空气中的测量很重要，并且不一定会得到与真空中相同的结果，因此双光束仪器的光路相等变得非常关键。注 38212；需要对分光光度计进行非常仔细的光学对准，以最大程度地减少仪器两个路径上吸收率的差异，并仔细调整斩波器时序以减少“串扰”； （参考信号和样本信号的重叠）以及减少光谱仪中杂散辐射的预防措施需要保持零线平坦。通过最佳调整，“100%线”将持平至 3% 以内；这两个测量值应在这些限值内可重复（见 7.3，注 6）。除棱镜单色仪中的棱镜和光栅单色仪中的光栅外，必须全程使用前表面镜光学器件，并且需要强调的是，两束光必须使用等效的光学元件，以减少和平衡光束的衰减通过光学元件的吸收。建议光学表面不含 SiO2 和 SiO 涂层； MgF2 可用于长时间稳定镜面。这些涂层的光学特性至关重要，但如果在测量过程中所有光路均固定，或者在操作模式之间（“0 % 线”、“0 % 线”、“0 % 线”期间）入射角不发生变化，则可以放宽要求。 100% 线和样本测量）。建议所有光学元件充分充满能量。两个光束的源孔径和场孔径必须相等，以确保设备比较的两个光束中的辐射通量将属于相等的源面积和相等的发射立体角。在某些情况下，在比较替代测量技术时可能需要定义源和样本的立体角。检测器放大器系统的响应必须随入射辐射通量线性变化。
1.1 本测试方法描述了一种高精度技术，用于测量导电材料或具有导电基材的材料的正常光谱发射率，温度范围为 600 至1400 K，波长为 1 至 35 µm。
1.2 该测试方法需要昂贵的设备和相当复杂的预防措施，但产生的数据精确度在百分之几以内。它适用于需要最高精度和准确度的研究实验室，但不建议用于常规生产或验收测试。但由于该测试方法准确度高，可以作为裁判方法应用到生产中……

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