GB/T 22094-2008
电子数显测高仪

Height measuring instrument with electronic digital display


GB/T 22094-2008 发布历史

本标准规定了电子数显测高仪的术语定义、型式与基本参数、工作条件、要求、试验方法、检验方法、标志与包装等。 本标准适用于分辨力为0.1μm、0.2μm、0.5μm和1μm,量程不超过1000mm的电子数显测高仪(以下简称“测高仪”)

GB/T 22094-2008由国家质检总局 CN-GB 发布于 2008-06-25,并于 2009-01-01 实施。

GB/T 22094-2008 在中国标准分类中归属于: J42 量具与量仪,在国际标准分类中归属于: 17.040.30 测量仪器仪表。

GB/T 22094-2008 发布之时,引用了标准

  • GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法试验Cab:恒定湿热试验
  • GB/T 2423.22-2002 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验N: 温度变化
  • GB 4208-2008 外壳防护等级(IP代码)
  • GB/T 17163 几何量测量器具术语.基本术语*2008-11-02 更新
  • GB/T 17626.2-2006 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验
  • GB/T 17626.3-2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验

* 在 GB/T 22094-2008 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。

GB/T 22094-2008的历代版本如下:

GB/T 22094-2008



标准号
GB/T 22094-2008
发布日期
2008年06月25日
实施日期
2009年01月01日
废止日期
中国标准分类号
J42
国际标准分类号
17.040.30
发布单位
CN-GB
引用标准
GB/T 2423.3-2006 GB/T 2423.22-2002 GB 4208-2008 GB/T 17163 GB/T 17626.2-2006 GB/T 17626.3-2006
适用范围
本标准规定了电子数显测高仪的术语定义、型式与基本参数、工作条件、要求、试验方法、检验方法、标志与包装等。 本标准适用于分辨力为0.1μm、0.2μm、0.5μm和1μm,量程不超过1000mm的电子数显测高仪(以下简称“测高仪”)

GB/T 22094-2008系列标准





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