ASTM E1181-02(2008)
双重晶粒度表征的标准试验方法
Standard Test Methods for Characterizing Duplex Grain Sizes
- 标准号
- ASTM E1181-02(2008)
- 发布
- 2002年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM E1181-02(2008)e1
- 当前最新
- ASTM E1181-02(2023)
- 引用标准
- ASTM E112 ASTM E3 ASTM E407 ASTM E562 ASTM E7 ASTM E883 ASTM E930
- 适用范围
- 由于某些金属和合金的热机械加工历史，可能会出现双相晶粒尺寸。为了比较机械性能与冶金特征，或者出于规范目的，能够表征此类材料的晶粒尺寸可能很重要。为双晶粒尺寸样品分配平均晶粒尺寸值并不能充分表征该样品的外观，甚至可能歪曲其外观。例如，对两个明显不同的晶粒尺寸进行平均可能会导致报告的尺寸实际上并不存在于样本中的任何地方。这些测试方法可适用于含有两种或多种尺寸显着不同的随机混合颗粒（以下称为随机双相颗粒尺寸）的样本或产品。随机双相晶粒尺寸的例子包括：在更细晶粒的基体中孤立的粗晶粒、极宽的晶粒尺寸分布以及晶粒尺寸的双峰分布。这些测试方法也可适用于含有两种或多种尺寸显着不同的晶粒的样品或产品，但以拓扑变化的模式分布（以下称为拓扑双相晶粒尺寸）。拓扑双相晶粒尺寸的示例包括：产品截面上晶粒尺寸的系统变化、项链结构、带状结构以及临界应变选定区域中的萌发晶粒生长。这些测试方法可应用于样本或产品，无论其再结晶状态如何。由于这些测试方法描述了晶粒尺寸的单一对数正态分布的偏差，并表征了晶粒尺寸变化的模式，因此必须评估总样本横截面。这些测试方法仅限于在单个抛光和蚀刻的冶金样本中可识别的双相晶粒尺寸。如果怀疑产品中的双相晶粒尺寸太大而无法作为单个样品进行抛光和蚀刻，则应将宏观蚀刻视为评估的第一步。如果可能的话，整个宏观蚀刻横截面应用作估计不同晶粒尺寸所占据的面积分数的基础。如果随后需要进行显微镜检查，则必须采集单个样本，以估计整个产品横截面的面积分数，并确定代表整个横截面的晶粒尺寸。这些测试方法旨在应用于双相晶粒尺寸。双相晶粒结构（例如，多相合金）不一定在晶粒尺寸上是双相的，因此不是这些方法的主题。然而，此处描述的面积分数估计测试方法可用于描述双相晶粒结构。
1.1 这些测试方法为确定双相晶粒尺寸是否存在提供了简单的指导。该测试方法将双相晶粒尺寸分为两个不同类别之一，然后分为这些类别中的特定类型，并为每种类型的晶粒尺寸表征提供系统。
1.2 单位8212；以 SI 单位表示的值被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
1.3 本标准可能涉及危险材料、操作和设备。本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题。本标准的使用者有责任在使用之前咨询适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。