双重晶粒度表征与测定方法, 您可以免费下载预览页
球形颗粒的比表面积SW与其直径d的关系,测定粉体的比表面积可以根据上式求得颗粒的一种等当量粒径,即表面积直径。 用一般的表征方法得到的是颗粒尺寸,而颗粒不一定是单个晶粒,X射线衍射线宽法测定的是微晶细晶粒尺寸。 库尔特计数器又称为电阻法颗粒计数器,是基于小孔电阻原理的超微颗粒粒度测量仪。一般能测量粒径0.5-500μm的颗粒。...
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