IEC 60749-23:2004
半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温操作寿命

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life


 

 

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标准号
IEC 60749-23:2004
发布
2004年
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 60749-23:2011
当前最新
IEC 60749-23:2004/AMD1:2011
 
 
被代替标准
IEC 47/1735/FDIS:2003
适用范围
该测试用于确定偏置条件和温度随时间对固态器件的影响。它以加速方式模拟设备运行状况，主要用于设备鉴定和可靠性监控。

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