ASTM F2592-08
测量薄膜开关力位移的标准试验方法

Standard Test Method for Measuring the Force-Displacement of a Membrane Switch


 

 

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标准号
ASTM F2592-08
发布
2008年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM F2592-09
当前最新
ASTM F2592-16
 
 
适用范围
转换为斜率后的力和位移值可用于量化薄膜开关之间触觉响应的差异。在设计薄膜开关接口电路时,指定的电阻对于制造商和用户很有用。致动力和接触力对于制造商和用户确定薄膜开关在给定应用中的适用性、参考性和美观性非常有用。开关在闭合或释放过程中意外时刻建立或断开电接触的倾向可能是设计不良的标志。戏弄的程度可以从简单的烦恼到关键控制过程的失败。开关灵敏度或拨弄的程度也可能是表面导电性差的结果,即使开关极部分接触,表面导电性也会阻止电气事件。
1.1 该测试方法涵盖薄膜开关的力位移特性的测量。
1.1.1 本测试方法取代测试方法 F 1570(触觉比率)。触觉响应斜率更好地代表了触觉的表征,以前称为“触觉比率”。测试方法 F 1570。
1.1.2 该测试方法取代测试方法 F 1682(旅行)。
1.1.3 该测试方法取代测试方法 F 1597(驱动和接触力)。
1.1.4 本测试方法取代测试方法 F 1997(开关灵敏度)。
1.2 力位移磁滞回线曲线可用于确定驱动力、位移、接触力、返回力和触觉响应斜率。
1.3 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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