ASTM F1596-15
薄膜开关或印刷电子设备暴露于温度和相对湿度的标准试验方法

Standard Test Method for Exposure of a Membrane Switch or Printed Electronic Device to Temperature and Relative Humidity

标准号

ASTM F1596-15

发布

2015年

发布单位

美国材料与试验协会

当前最新

ASTM F1596-15

 

 

引用标准

ASTM F1595 ASTM F1661 ASTM F1662 ASTM F1663 ASTM F1680 ASTM F1689 ASTM F2592

适用范围

1.1 该测试方法涵盖薄膜开关或印刷电子设备的温度和湿度循环程序。 1.2 该测试方法用于评估薄膜开关或印刷电子组件结构中使用的材料的性能，因为它们受到水分和湿气吸收和扩散的影响。这是一项加速环境测试，通过将测试样本在高温下持续暴露于高相对湿度来完成。许多材料吸收水分会导致膨胀，从而破坏其功能性，导致物理强度损失以及其他机械性能的变化。吸收水分的绝缘材料的电性能可能会下降。
1.2.1 物理变化：
1.2.1.1 不同的收缩或膨胀率或不同材料的诱导应变。
1.2.1.2表面涂层开裂。
1.2.1.3 密封室泄漏。
1.2.1.4 部件变形或断裂。
1.2.2 化学变化：
1.2.2.1 成分分离。
1.2.2.2化学药剂防护失效。
1.2.3 电气变化：
1.2.3.1 电子和电气元件的变化。
1.2.3.2 由于凝结水快速形成而导致的电子或机械故障。
1.2.3.3、静电过多。

ASTM F1596-15相似标准

推荐

谁引用了ASTM F1596-15 更多引用