NF X21-064-2009
表面化学分析.次级离子质谱测定法.静态次级离子质谱测定法中相对强度数值范围的重复性和稳定性

Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry.

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标准号

NF X21-064-2009

发布日期

2009年02月01日

实施日期

2009年02月28日

废止日期

无

中国标准分类号

G04

国际标准分类号

71.040.50

发布单位

FR-AFNOR

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