NF X21-064-2009
表面化学分析.次级离子质谱测定法.静态次级离子质谱测定法中相对强度数值范围的重复性和稳定性

Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry.

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标准号

NF X21-064-2009

发布

2009年

发布单位

法国标准化协会

 

 

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