QJ 10004-2008
宇航用半导体器件总剂量辐射试验方法
Total dose radiation testing method of semiconductor devices for space applications
说明：
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- 标准号
- QJ 10004-2008
- 发布
- 2008年
- 发布单位
- 行业标准-航天
- 当前最新
- QJ 10004-2008
- 引用标准
- GB 4792-1984 GJB 1649-1993 GJB 2712-1996 GJB 3756-1999
- 本标准规定了采用钴60γ射线对宇航用半导体器件（以下简称器件）进行电离总剂量辐照试验的一般要求和试验程序、方法。 本标准适用于宇航用半导体器件辐照评估试验和验证试验。
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