SANS 3497:2008
金属镀层.涂层厚度测量.X射线光谱法

Metallic coatings - Measurement of coating thickness - X-ray spectrometric methods


SANS 3497:2008 中,可能用到以下仪器

 

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标准号
SANS 3497:2008
发布
2008年
发布单位
ZA-SANS
当前最新
SANS 3497:2008
 
 
规定了使用 X 射线光谱法测量金属涂层厚度的方法。测量方法从根本上来说是确定单位面积质量的方法。允许同时测量涂层系统

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