IEC 60747-5-2:2009
分立半导体器件及集成电路.第5-2部分:光电元件.基本额定值及特性
Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-2: Optoelectronic devices - Essential ratings and characteristics
- 标准号
- IEC 60747-5-2:2009
- 发布
- 2009年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60747-5-2:2009
IEC 60747-5-2:2009相似标准
推荐
半导体基础知识大全你知道多少
国际电子联合会半导体型号命名方法德国、法国、意大利、荷兰、比利时等欧洲国家以及匈牙利、罗马尼亚、南斯拉夫、波兰等东欧国家，大都采用国际电子联合会半导体分立器件型号命名方法。这种命名方法由四个基本部分组成，各部分的符号及意义如下：第一部分：用字母表示器件使用的材料。...
2022年中国电子元器件行业市场规模及发展前景分析预计到2025年销售规模近2.5万亿
2020年电子元器件销售总额近1.9万亿电子元器件是各种电子整机的基本组成部分，决定着电子整机的性能和质量。...
484项拟立项国家标准项目征求意见，这些与仪器仪表有关！
序号项目中文名称制修订1马铃薯茎叶及其加工制品中茄尼醇的含量测定高效液相色谱-质谱法制订2甘蔗皮渣中对香豆酸检测方法-高效液相色谱法制订3半导体器件分立器件第14-4部分：半导体加速度计制订4半导体器件第16-5部分：微波集成电路振荡器制订5半导体器件第14-2 部分：半导体传感器-霍尔元件制订6无损检测泄漏检测示踪气体方法制订7钢铁及合金镧、铈、镨、钕、钐含量的测定电感耦合等离子体质谱法制订8半导体器件第...
探针台选型的注意事项
探针台是一种很专业的仪器，它主要的功能就是针对半导体元件进行检测，这里面说的半导体元件指的是集成电路，分立器件，光电器件，传感器等元件以及封装的测试。通过探针台配合测量仪器可完成集成电路的电压，电流，电阻和电容电压特性曲线等参数检测。可以适用于对芯片进行科研分析，抽查检测等；可以保证这些半导体元件的质量，缩短研发时间和器件制作工艺的成本，所以，它的存在对于制造半导体的企业来说是非常重要的。 ...