关键词Plasma 3000,Plasma 2000,工业硅,耐氢氟酸进样系统国家产品标准GB/T2881-2014《工业硅》中规定,检测工业硅中杂质元素采用电感耦合等离子体发射光谱仪测定。本实验参照标准GB/T14849.4-2014《工业硅化学分析方法第四部分:杂质元素含量测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法》测定工业硅中铝、铬、钙、硼、铜、铁、镁、镍、锰、磷、钠、钛的元素含量。...
-2022 土壤和沉积物有机物分析方法 第3部分:16种多环芳烃的测定 气相色谱-质谱法 DZ/T 0424.1-2022 石墨矿化学分析方法 第1部分:硅、铝、钙、镁、铁、钛、锰和磷含量的测定 碳酸钠熔融-电感耦合等离子体原子发射光谱法 DZ/T 0424.2-2022 石墨矿化学分析方法 第2部分:钾、钠、硅、铝、钙、镁、铁、钛、锰和磷含量的测定 偏硼酸锂熔融-电感耦合等离子体原子发射光谱法...
第24部分:稀土总含量的测定GB/T 20975.24-20082021-05-0121GB/T 20975.25-2020铝及铝合金化学分析方法 第25部分:元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法GB/T 20975.25-20082021-05-0122GB/T 20975.3-2020铝及铝合金化学分析方法 第3部分:铜含量的测定GB/T 20975.3-20082021-05-0123GB...
YS/T 575.22-20072021-07-01YS/T 575.23-2021铝土矿石化学分析方法 第23部分:元素含量的测定 X射线荧光光谱法 本标准规定了铝土矿石中三氧化二铝、二氧化硅、全铁(以Fe2O3表示)、二氧化钛、氧化钾、氧化钠、氧化钙、氧化镁、五氧化二磷、氧化锰、硫、钒、镓和锌含量的测定方法。 ...
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