IEC 60747-16-10:2004
半导体器件.第16-10部分:单片型微波集成电路的技术验收程序(TAS)
Semiconductor devices - Part 16-10: Technology Approval Schedule (TAS) for monolithic microwave integrated circuits
- 标准号
- IEC 60747-16-10:2004
- 发布
- 2004年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60747-16-10:2004
- 被代替标准
- IEC 47E/257/FDIS:2004
- 适用范围
- Specifies the terms, definitions, symbols, quality system, test, assessment and verification methods and other requirements relevant to the design, manufacture and supply of monolithic microwave integrated circuits in compliance with the general requirem
IEC 60747-16-10:2004相似标准
EN 60747-16-10:2004 半导体器件.第16-10部分:单片微波集成电路的技术验收程序(TAS)IEC 60747-16-10-2004
NF C96-016-10*NF EN 60747-16-10:2005 半导体器件 第16-10部分：单片微波集成电路的技术验收方案（TAS）
BS EN 60747-16-10:2004 半导体器件.单片微波集成电路的技术验收程序(TAS)
GB/T 20870.10-2023 半导体器件 第16-10部分：单片微波集成电路技术可接收程序
DS/EN 60747-16-10:2004 半导体器件 第 16-10 部分：单片微波集成电路的技术批准时间表（TAS）