XB/T 612.2-2009
钕铁硼废料化学分析方法.第二部分:十五个稀土元素氧化物配分量的测定 电感耦合等离子体光谱法

Chemical analysis methods of scraps of neodymium iron boron-Part 2:Determination of fifteen REO relative contents-Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry

XB/T 612.2-2009 中，可能用到以下仪器设备

 

Gemini™ 分析仪

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赛默飞世尔科技便携式仪器

 

Spectrum Two红外光谱仪

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珀金埃尔默企业管理（上海）有限公司PerkinElmer

 

Spectrum 65 傅里叶红外光谱仪

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珀金埃尔默企业管理（上海）有限公司PerkinElmer

 

Nicolet iS20傅立叶变换红外光谱仪

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赛默飞分子光谱仪器

 

Spectrum 3™傅立叶变换红外光谱仪

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珀金埃尔默企业管理（上海）有限公司PerkinElmer

 

VERTEX 70红外光谱仪

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布鲁克光谱仪器公司(BRUKER OPTICS)

 

TENSOR 27/37型TENSOR系列红外光谱仪

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布鲁克光谱仪器公司(BRUKER OPTICS)

 

日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

FEI Quanta x50 FEG场发射环境扫描电镜

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赛默飞电子显微镜（原FEI）

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子6700F高分辨扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

布鲁克VERTEX 80/80v 傅立叶变换红外光谱仪

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布鲁克光谱仪器公司(BRUKER OPTICS)

 

傅立叶红外光谱仪

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北京鲁美科思仪器设备有限公司

 

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子JASM-6200 ClairScope 大气压扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

日本电子JCM-6000plus NeoScope 台式扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

日本电子JSM-7200F扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

大气压扫描电镜

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聚焦离子束系统

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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Quanta SEM

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傅立叶红外光谱仪模块

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海洋光学亚洲公司

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司

 

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

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蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

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聚焦离子束系统

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微秒级时间分辨超灵敏红外光谱仪

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QUANTUM量子科学仪器贸易（北京）有限公司

 

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微处理器控制的重力式对流烘箱

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高温型工业用机械式对流烘箱

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XB/T 612.2-2009

标准号
XB/T 612.2-2009
发布日期
2009年12月04日
实施日期
2010年06月01日
废止日期
无
中国标准分类号
H14
国际标准分类号
77.120.99
发布单位
CN-XB
适用范围
XB/T 612的本部分规定了钕铁硼废料中十五个稀土元素氧化物配分量的测定方法。 本部分适用于钕铁硼废料中十五个稀土元素氧化物配分量的测定。测定范围见表1

XB/T 612.2-2009 中可能用到的仪器设备

辉光放电光谱仪 辉光放电质谱 红外光谱仪 扫描电镜SEM 干燥设备/烘箱/干燥箱 VOC检测仪/TVOC监测仪 溶出度仪

谁引用了XB/T 612.2-2009 更多引用

GB/T 23588-2009 钕铁硼废料


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