BS QC 750100-1986+A2-1996
电子元器件用质量评估的协调体系.离散半导体器件.分规范

Harmonized system of quality assessment for electronic components - Discrete semiconductor devices - Sectional specification

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标准号

BS QC 750100-1986+A2-1996

发布日期

1986年12月31日

实施日期

1986年12月31日

废止日期

无

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01;31.200

发布单位

GB-BSI

被代替标准

BS QC 750100-1986

适用范围

This sectional specification applies to discrete semiconductor devices, excluding opto-electronic devices.

BS QC 750100-1986+A2-1996 中可能用到的仪器设备