ISO 17470:2004
微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法分析质量点的指南

Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

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标准号

ISO 17470:2004

发布

2004年

中文版

GB/T 20725-2006 (等同采用的中文版本)

发布单位

国际标准化组织

替代标准

ISO 17470:2014

当前最新

ISO 17470:2014

 

 

适用范围

本标准是用点至探针或者扫描电镜中的波谱仪获得试样特定体积内（μm尺度）的X射线谱， 进行元素鉴别和确认特定元素存在的一种标准方法。

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