BS ISO 17470-2014
微束分析. 电子探针显微分析. 采用波长分散X射线光谱测定法的定性点分析指南

Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

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标准号

BS ISO 17470-2014

发布日期

2014年01月31日

实施日期

2014年01月31日

废止日期

无

中国标准分类号

N33

国际标准分类号

71.040.99

发布单位

GB-BSI

引用标准

ISO 14594-2003

被代替标准

BS ISO 17470-2004

BS ISO 17470-2014 中可能用到的仪器设备