ASTM F773M-10
测定线性集成电路的剂量率响应的规范【公制单位】

Practice for Measuring Dose Rate Response of Linear Integrated Circuits [Metric]

被代替

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标准号

ASTM F773M-10

发布

2010年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM F773M-16

当前最新

ASTM F773M-16

 

 

适用范围

线性集成电路有很多种。任何给定的线性集成电路可以在制造商指定的性能限制内以多种方式并在各种操作条件下使用。当线性集成电路暴露于脉冲电离辐射时，在与预期应用相似的操作条件下，该实践的过程提供了一种测量线性集成电路的剂量率响应的标准化方法。了解线性集成电路对辐射脉冲的响应对于需要在脉冲辐射环境中运行的电子系统的设计、生产和维护至关重要。
1.1 本实践涵盖了线性集成电路响应的测量，在给定的操作条件下，脉冲电离辐射。该响应可能是瞬时的，也可能是更持久的，例如闩锁。辐射源是闪光 X 射线机 (FXR) 或电子直线加速器 (LINAC)。
1.2 测量精度取决于辐射场的均匀性以及辐射剂量测定和记录仪器的精度。
1.3 如果总辐射电离剂量超过某个预定水平或者如果部件应该锁住，则对于进一步的测试或其他目的，该测试可以被认为是破坏性的。由于该水平取决于集成电路的类型和应用，因此测试各方必须就具体值达成一致。 （参见 6.10。） 1.4 本实践中包括设置、校准和测试电路评估程序。
1.5 本实践不包括批次鉴定和抽样程序。
1.6 由于不同设备类型的响应不同，本实践中未给出任何特定测试的剂量率范围，但必须由测试各方商定。
1.7 以 SI 单位表示的值应被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
1.8 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。