ASTM F773M-16
线性集成电路的剂量率响应测量的标准实施规程 (米制)
Standard Practice for Measuring Dose Rate Response of Linear Integrated Circuits (Metric)
- 标准号
- ASTM F773M-16
- 发布
- 2016年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 当前最新
- ASTM F773M-16
- 引用标准
- ASTM E1894 ASTM E666 ASTM E668 ASTM F526
- 适用范围
- 1.1 这种做法涵盖了在给定工作条件下线性集成电路对脉冲电离辐射的响应的测量。该响应可能是瞬时的，也可能是更持久的，例如闩锁。辐射源是闪光 X 射线机 (FXR) 或电子直线加速器 (LINAC)。
1.2 测量精度取决于辐射场的均匀性以及辐射剂量测定和记录仪器的精度。
1.3 如果总辐射电离剂量超过某个预定水平或者部件应该锁住，则对于进一步的测试或其他目的，该测试可能被认为是破坏性的。由于该水平取决于集成电路的类型和应用，因此测试各方必须就具体值达成一致。 （参见 6.10。） 1.4 设置、校准和测试电路评估程序包含在本实践中。
1.5 本实践不包括批次鉴定和抽样程序。
1.6 由于不同设备类型的响应不同，本实践中未给出任何特定测试的剂量率范围和设备扰动条件，但必须由测试各方商定。 1.7 以 SI 单位表示的值被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
1.8 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。