SAE HS-784-2003
用X射线衍射测量SAE剩余应力

SAE Residual Stress Measurement by X-Ray Diffraction, 2003 Edition


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 SAE HS-784-2003 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

 

标准号
SAE HS-784-2003
发布
2003年
发布单位
美国机动车工程师协会
当前最新
SAE HS-784-2003
 
 
适用范围
J784a 的这篇编辑评论基于 X 射线衍射残余应力测量方法在数千个单独应用中的实际应用数十年的经验。 J748是一个经典文件。它是唯一公认的残余应力测量标准。本次修订的目的不是纳入 X 射线和中子衍射领域的所有研究,而是重点关注对汽车工程相关行业成员有用的 X 射线衍射技术的实际应用。

SAE HS-784-2003相似标准


推荐

概述X射线衍射分析的应力测试

超微观应力在应变区内使原子偏离 平衡位置,导致衍 射线强度减弱,故可以通过X射线强度的变化测定超微观应力。测定应力一般衍射仪法。  X射线测定 应力具有非破坏性,可测小范围 局部应力,可测表层应力,可区别应力类型、测量时无需使材料处于无 应力状态等优点,但其测量精确度受组织结构的影响较大,X射线也难以测定动态瞬时应力。...

齿轮传动件的X射线衍射残余应力检测技术

晶体材料中拉伸和压缩残余应力的存在,将导致晶面间距d的增大和缩小。在特定的X光线照射下,晶面间距d的增大和缩小将导致材料的衍射峰位偏移,这些偏移可通过探测器检测出来。X射线衍射残余应力测定技术是根据布拉格方程和弹性力学理论,X射线方法无损地检测出零件材料因残余应力存在导致的衍射峰位偏移,计算出晶面间距d的变化值和进而计算出残余应力值的一门专业技术(图1)。...

如何对x射线图进行物相分析

,导致衍射线向某方向位移,这就是X射线测量宏观应力的基础;微观应力在各晶粒间甚至一个晶粒内各部分间彼此不同,产生的不均匀应变表现为某些区域晶面间距增加、某些区域晶面间距减少,结果使衍射线向不同方向位移,使其衍射线漫散宽化,这是X射线测量微观应力的基础.超微观应力在应变区内使原子偏离平衡位置,导致衍射线强度减弱,故可以通过X射线强度的变化测定超微观应力.测定应力一般衍射仪法.X射线测定应力具有非破坏性...

【技术】典型汽车零件的X射线应力检测技术

X射线衍射残余应力测定技术是根据布拉格方程和弹性力学理论,X射线方法无损地检测出零件材料因残余应力存在导致的衍射峰位偏移,计算出晶面间距d的变化值和进而计算出残余应力值的一门专业技术图1:X射线衍射残余应力测定示意图    对于是X射线波长λ整数倍的衍射晶面,其衍射角2θ可通过实验方法测得,晶面间距d值可通过布拉格方程计算得出。  ...


SAE HS-784-2003 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号