GB/T 26074-2010
锗单晶电阻率直流四探针测量方法
Germanium monocrystal.Measurement of resistivity-DC linear four-point probe
GBT26074-2010, GB26074-2010
- 标准号
- GB/T 26074-2010
- 别名
- GBT26074-2010, GB26074-2010
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 26074-2010
- 适用范围
- 本标准规定了用直流四探针法测量锗单晶电阻率的方法。 本标准适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的最近距离二者均大于探针间距的4倍锗单晶的电阻率及测量直径大于探针间距的10倍、厚度小于探针间距4倍锗单晶圆片的电阻率。测量范围为1×10-3Ω•cm～1×102Ω•cm。
GB/T 26074-2010相似标准
推荐
四探针测试仪原理和组成
多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量 仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、 GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。 仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。...
半导体粉末电阻率测试仪 粉末电阻率仪
四探针法测试台设计符合符合GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正材料》中关于粉末电阻率测试的原理和规范，参照GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。 四探针法同步压力连续测试粉末“电阻率-压强曲线，” 国内*，行业，行业推荐粉末电阻率标准测试方式。 ...
超高阻双电四探针测试仪仪器配置
四探针电阻率又名方阻测试仪是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗四探针电阻率方阻测试仪单晶、硅片)电阻率，以及扩散层、外延层、 ITO 导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份(简称:主机)、测试架及四探针头组成。 超高阻双电四探针测试仪是宁波江北瑞柯伟业仪器有限公司研发的产品，目前已被多家企业咨询，预定，购买。...
高温四探针电阻率测试系统
二、适用行业：广泛用于：生产企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻、电阻率和电导率数据.三、功能介绍：液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。...