DIN EN 62415:2010
半导体器件.恒定电流电迁移试验(IEC 62415-2010);德文版本EN 62415-2010
Semiconductor devices - Constant current electromigration test (IEC 62415:2010); German version EN 62415:2010
- 标准号
- DIN EN 62415:2010
- 发布
- 2010年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 替代标准
- DIN EN 62415:2010-12
- 当前最新
- DIN EN 62415:2010-12