DIN EN 15991:2011
陶瓷原料和基本材料的试验.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数;德文版
Testing of ceramic and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV); German v
- 标准号
- DIN EN 15991:2011
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 替代标准
- DIN EN 15991:2016
- DIN EN 15991 E:2014-07
- 当前最新
- DIN EN 15991:2016-02
- 本欧洲标准规定了粉状和粒状碳化硅中 Al、Ca、Cr、Cu、Fe、Mg、Ni、Ti、V 和 Zr 痕量元素浓度的测定方法。取决于元素、波长、等离子体条件和重量，该测试方法适用于约0.1mg/kg至约1000mg/kg的上述痕量污染物的质量含量，评估后也适用于0.001mg/kg至约5000mg/kg毫克/公斤。
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