DIN EN 15991-2011
陶瓷原料和基本材料的试验.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数;德文版

Testing of ceramic and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV); German v

DIN EN 15991-2011 发布历史

This European Standard defines a method for the determination of the trace element concentrations of Al, Ca, Cr, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, V and Zr in powdered and granular silicon carbide. Dependent on element, wavelength, plasma conditions and weight, this test method is applicable for mass contents of the above trace contaminations from about 0,1 mg/kg to about 1000 mg/kg, after evaluation also from 0,001 mg/kg to about 5000 mg/kg.

DIN EN 15991-2011由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 2011-04。

DIN EN 15991-2011 在中国标准分类中归属于: Q30 陶瓷、玻璃综合，在国际标准分类中归属于: 81.060.10 原料。

DIN EN 15991-2011的历代版本如下：

• 2011年04月 DIN EN 15991-2011 陶瓷原料和基本材料的试验.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数;德文版
• 2016年02月 DIN EN 15991-2016 陶瓷原料和基本材料的试验.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数;德文版本EN 15991-2015

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标准号

DIN EN 15991-2011

发布日期

2011年04月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

Q30

国际标准分类号

81.060.10

发布单位

DE-DIN

代替标准

DIN EN 15991-2016

适用范围

This European Standard defines a method for the determination of the trace element concentrations of Al, Ca, Cr, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, V and Zr in powdered and granular silicon carbide. Dependent on element, wavelength, plasma conditions and weight, this test method is applicable for mass contents of the above trace contaminations from about 0,1 mg/kg to about 1000 mg/kg, after evaluation also from 0,001 mg/kg to about 5000 mg/kg.

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