半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性测试前非密封表面安装设备预处理(IEC 60749-30-2005+A1-2011).德文版 EN 60749-30-2005+A1-2011DIN EN 61747-5-3-2010 液晶显示装置.第5-3部分:环境、耐久性和机械试验方法.玻璃强度和可靠性(IEC 61747-5-3-2009,修改件).德文版本EN 61747-5-3-2010DIN...
通常为塑料制品,多数用于 DRAM 和 SRAM 等存储器 LSI 电路,但绝大部分是 DRAM。用 SO J 封装的 DRAM 器件很多都装配在 SIMM 上。引脚中心距 1.27mm,引脚数从 20 至 40(见SIMM )。67、SQL(Small Out-Line L-leaded package)按照 JEDEC(美国联合电子设备工程委员会)标准对 SOP 所采用的名称(见 SOP)。...
General半导体器件机械和气候试验方法总则IEC 60749-1:200214GB/T5054.2-2008道路车辆 多芯连接电缆 第2部分:高性能护套电缆的性能要求和试验方法Road vehicles - Multi-core connecting cables - Part 2: Test methods and requirements for high performance sheathed...
需求编号:CQKX-2019-01-01需求名称高可靠三维立体封装用自我防护焊膏需求概述随着组件组装、封装的维度从二维平面发展为三维立体,元器件封装尺寸也随之越来越小,电阻电容等元器件出现了 01005 封装,扁平封装元器件引脚间距也逐渐缩小,传统焊膏钎焊性能和焊后强度已难以满足上述微细连接的需求,且传统的焊点防护手段在细间距器件的封装环境下也越来越难以实施。...
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