GJB 7242-2011
单粒子效应试验方法和程序

Test methods and procedures for single-event effects


GJB 7242-2011 中,可能用到以下仪器

 

DBDI-100 介质阻挡放电离子源

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宁波华仪宁创智能科技有限公司

 

TriVersa NanoMate 芯片多通道纳喷离子源

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华质泰科生物技术(北京)有限公司

 

LESA 纳喷机器人离子源

LESA 纳喷机器人离子源

华质泰科生物技术(北京)有限公司

 

DESI 解吸附电喷雾离子源

DESI 解吸附电喷雾离子源

华质泰科生物技术(北京)有限公司

 

DART-TD 热脱附实时直接分析质谱离子源

DART-TD 热脱附实时直接分析质谱离子源

华质泰科生物技术(北京)有限公司

 

Flowprobe 流动微萃取探针离子源

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华质泰科生物技术(北京)有限公司

 

用于粒子成像测速(PIV)的荧光示踪粒子

用于粒子成像测速(PIV)的荧光示踪粒子

北京欧兰科技发展有限公司

 

GJB 7242-2011



标准号
GJB 7242-2011
发布日期
2011年01月20日
实施日期
2011年04月01日
废止日期
发布单位
CN-GJB-Z
适用范围
本标准规定了半导体器件单粒子效应的试验目的、要求和程序等。 本标准适用于重离子辐照引起的器件单粒子翻转、单粒子锁定试验。

GJB 7242-2011 中可能用到的仪器设备


谁引用了GJB 7242-2011 更多引用





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