BS EN 60749-40:2011
半导体装置.机械和气候试验方法.利用变形测量器进行的板级落锤试验法

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using a strain gauge

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BS EN 60749-40:2011

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标准号
BS EN 60749-40:2011
发布
2011年
发布单位
英国标准学会
当前最新
BS EN 60749-40:2011
 
 
代替标准
NF V08-010-4:2017

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