BS EN 60749-40:2011
半导体装置.机械和气候试验方法.利用变形测量器进行的板级落锤试验法
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using a strain gauge
- 标准号
- BS EN 60749-40:2011
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN 60749-40:2011
- 代替标准
- NF V08-010-4:2017
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