ASTM F1689-05(2012)
测定薄膜开关抗绝缘性的标准试验方法
Standard Test Method for Determining the Insulation Resistance of a Membrane Switch
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- 标准号
- ASTM F1689-05(2012)
- 发布
- 2005年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM F1689-05(2020)
- 当前最新
- ASTM F1689-05(2020)
- 绝缘电阻对于设计验证、材料质量控制和工艺很有用。绝缘电阻低会导致漏电流大。高泄漏电流可能导致绝缘恶化或相关输入设备误触发，或两者兼而有之。测试的具体领域包括但不限于：导体/电介质/导体交叉点。导体附近以及任何其他导电表面，例如屏蔽或金属背板。绝缘电阻测量可能具有破坏性，经过测试的设备应被视为对未来使用不可靠。1.1 本测试方法涵盖薄膜开关绝缘电阻的测定。 1...