ASTM F1689-05(2012)
测定薄膜开关抗绝缘性的标准试验方法
Standard Test Method for Determining the Insulation Resistance of a Membrane Switch
- 标准号
- ASTM F1689-05(2012)
- 发布
- 2005年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM F1689-05(2020)
- 当前最新
- ASTM F1689-05(2020)
- 适用范围
- 绝缘电阻对于设计验证、材料质量控制和工艺很有用。绝缘电阻低会导致漏电流大。高泄漏电流可能导致绝缘恶化或相关输入设备误触发，或两者兼而有之。测试的具体领域包括但不限于：导体/电介质/导体交叉点。导体附近以及任何其他导电表面，例如屏蔽或金属背板。绝缘电阻测量可能具有破坏性，经过测试的设备应被视为对未来使用不可靠。
1.1 本测试方法涵盖薄膜开关绝缘电阻的测定。
1.2 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。