JJF 1306-2011
X射线荧光镀层测厚仪校准规范
Calibration Specification for X-Ray Fluorescence Coating Thickness Instruments
JJF 1306-2011 中，可能用到以下耗材
- 标准号
- JJF 1306-2011
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 国家计量技术规范
- 当前最新
- JJF 1306-2011
- 引用标准
- GB/T 16921-2005 JJF 1001-1998 JJF 1059-1999 JJF 1094-2002
- 本规范适用于X射线荧光镀层测厚仪的校准。
JJF 1306-2011相似标准
推荐
牛津仪器新产品镀层测厚仪COMPACT和MAXXI系列发布会圆满召开
2014年5月22日-23日，牛津仪器工业分析部在上海海悦大酒店召开新产品发布会，隆重推出了最新一款超高性价比的镀层测厚仪产品COMPACT和MAXXI系列。此款产品是基于X射线荧光技术所开发，是功能性和检测精度兼备的理想工具。...
牛津仪器邀您参观2017中国国际电子电路展览会CPCA
高级用户能容易地理解X荧光光谱，获得定制的校准和探索未知的材料。X-Strata 和 MAXXI 系列产品能分析功能性涂料和电路板、电子元器件、集成电路（IC）、硬盘驱动器（HDD）和光电产品上的镀层。牛津仪器镀层测厚仪不仅仅有检测精度极高的台式X荧光光谱仪Eco系列、MAXXI 系列、X-Strata 920，还有方便易用的便携式CMI 系列镀层测厚仪。...
CPCA展下周二在国家会展中心举办！
高级用户能容易地理解X荧光光谱，获得定制的校准和探索未知的材料。X-Strata 和 MAXXI 系列产品能分析功能性涂料和电路板、电子元器件、集成电路（IC）、硬盘驱动器（HDD）和光电产品上的镀层。牛津仪器镀层测厚仪不仅仅有检测精度极高的台式X荧光光谱仪，还有方便易用的便携式CMI 系列镀层测厚仪，更有手持XRF光谱仪用于RoHS有害元素筛选。我们的展位号是7.1H馆7M39，欢迎参观！...
牛津仪器推出新款X射线荧光镀层测厚仪MAXXI 6
...