DS/EN 60749-33:2004
半导体器件 机械和气候测试方法 第33部分：加速耐湿性 无偏差高压灭菌器

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave

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标准号

DS/EN 60749-33:2004

发布

2004年

发布单位

丹麦标准化协会

当前最新

DS/EN 60749-33:2004

 

 

代替标准

ANSI/NCPDP PostAdj v 4.1-2013

适用范围

The unbiased autoclave test is performed to evaluate the moisture resistance integrity of non-hermetic packaged solid-state devices using moisture condensing or moisture saturated steam environments. It is a highly accelerated test which employs conditions of pressure, humidity and temperature under condensing conditions to accelerate moisture penetration through the external protective material (encapsulant or seal) or along the interface between the external protective material and the metallic conductors passing through it. This test is used to identify failure mechanisms internal to the package and is destructive.

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