DS/EN 60749-4/Corr.1-2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

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标准号

DS/EN 60749-4/Corr.1-2004

发布日期

2004年02月12日

实施日期

2003年12月23日

废止日期

无

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

DK-DS

适用范围

This part of IEC 60749 provides a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semicondutor devices in humid environments.