DS/EN 61967-6:2003
集成电路 电磁发射的测量，150 kHz 1 GHz 第6部分：传导发射的测量 磁探针法

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz - 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method

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标准号

DS/EN 61967-6:2003

发布

2003年

发布单位

丹麦标准化协会

替代标准

DS/EN 61967-6/A1:2008

当前最新

DS/EN 61967-6/A1:2008

 

 

适用范围

IEC 61967 的这一部分规定了一种通过使用微型磁性探针进行非接触式电流测量来评估集成电路 (IC) 引脚上射频电流的方法。该方法能够测量 IC 在 0.15 MHz 至 1000 MHz 频率范围内产生的 RF 电流。该方法适用于在标准化测试板上对单个IC或IC芯片组进行测量，以进行表征和比较。它还可用于评估实际应用 PCB 上 IC 组的电磁特性，以实现减排目的。这种方法被称为“磁探针”

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