DS/EN 62373:2006
金属氧化物、半导体、场效应晶体管（MOSFET）的偏置温度稳定性测试

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

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标准号: DS/EN 62373:2006
发布: 2006年
发布单位: 丹麦标准化协会
当前最新: DS/EN 62373:2006

适用范围: This standard provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).

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