IEC 62416:2010 describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime.
DS/EN 62416-2010由丹麦标准化协会 DK-DS 发布于 2010-08-16,并于 2010-08-16 实施。
DS/EN 62416-2010在国际标准分类中归属于: 31.080.30 三极管。
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