DS/EN 62416-2010

Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors

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标准号

DS/EN 62416-2010

发布日期

2010年08月16日

实施日期

2010年08月16日

废止日期

无

国际标准分类号

31.080.30

发布单位

DK-DS

适用范围

IEC 62416:2010 describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime.