LST EN 60749-16-2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 16: Particle impact noise detection (PIND) (IEC 60749-16:2003)

LST EN 60749-16-2003 发布历史

LST EN 60749-16-2003由立陶宛标准局 LT-LST 发布于 2003-12-28，并于 2003-12-28 实施。

LST EN 60749-16-2003在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

LST EN 60749-16-2003的历代版本如下：

• 2003年12月28日 LST EN 60749-16-2003

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标准号

LST EN 60749-16-2003

发布日期

2003年12月28日

实施日期

2003年12月28日

废止日期

无

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

LT-LST