DIN IEC/TS 62132-9-2012
集成电路.电磁抗干扰测量.第9部分:辐射抗扰度测量.表面扫描法(IEC 47A/887/CD-2012)

Integrated circuits - measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity - Surface scan method (IEC 47A/887/CD:2012)

DIN IEC/TS 62132-9-2012 发布历史

DIN IEC/TS 62132-9-2012由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 2012-11。

DIN IEC/TS 62132-9-2012 在中国标准分类中归属于: L55 微电路综合，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。

DIN IEC/TS 62132-9-2012的历代版本如下：

• 2012年11月 DIN IEC/TS 62132-9-2012 集成电路.电磁抗干扰测量.第9部分:辐射抗扰度测量.表面扫描法(IEC 47A/887/CD-2012)
• 2015年08月 DIN IEC/TS 62132-9-2015 集成电路.电磁抗干扰测量.第9部分:辐射抗扰度测量.表面扫描法 (IEC/TS 62132-9-2014)

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标准号

DIN IEC/TS 62132-9-2012

发布日期

2012年11月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L55

国际标准分类号

31.200

发布单位

DE-DIN