DIN IEC/TS 62132-9:2015
集成电路.电磁抗干扰测量.第9部分:辐射抗扰度测量.表面扫描法 (IEC/TS 62132-9-2014)
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity - Surface scan method (IEC/TS 62132-9:2014)
- 标准号
- DIN IEC/TS 62132-9:2015
- 发布
- 2015年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 当前最新
- DIN IEC/TS 62132-9:2015
- 引用标准
- DIN EN 62132-1:2006 DIN IEC/TS 61967-3:2015 IEC 60050-101:1998 IEC 60050-102:2007 IEC 60050-103:2009 IEC 60050-111 AMD 1:2005 IEC 60050-111:1996 IEC 60050-112:2010 IEC 60050-113 AMD 1-2 IEC 60050-113 Corrigendum 1:2011 IEC 60050-113:2011 IEC 60050-55:1970
- 被代替标准
- DIN IEC/TS 62132-9:2012
DIN IEC/TS 62132-9:2015相似标准
IEC 47A/898/CD:2013 IEC/TS 62132-9, Ed. 1:集成电路,电磁抗扰度的测量.第9部分:
辐射抗扰度的测量.表面扫描法
IEC 47A/887/CD:2012 IEC/TS 62132-9, 版本1:基础电路.电磁抗干扰测量.第9部分:辐射抗扰度测量.表面扫描法
IEC 47A/903/CD:2013 IEC/TS 62132-9,版本1:集成电路电磁抗扰性的测量.第9部分:辐射抗干扰性的测量.表面扫描法
IEC 47A/924/DTS:2014 IEC/TS 62132-9, Ed. 1:集成电路.电磁抗扰性的测量.第9部分:辐射抗扰性的测量.表面扫描法
DIN IEC/TS 62132-9:2012 集成电路.电磁抗干扰测量.第9部分:辐射抗扰度测量.表面扫描法(IEC 47A/887/CD-2012)