ITU-T O.175-2012
基于XG-PON的数字系统抖动测量设备.15号研究组
Jitter measuring equipment for digital systems based on XG-PON (Study Group 15)
说明：
- 此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
- 鼠标放置在图上可以看到标题编号；
- 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小；
- 表示标准的节点，可以拖动；
- 绿色表示标准：ITU-T O.175-2012 ， 绿色、红色表示本平台存在此标准，您可以下载或者购买，灰色表示平台不存在此标准；
- 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。
- 标准号
- ITU-T O.175-2012
- 发布日期
- 2012年
- 实施日期
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- M38
- 发布单位
- IX-ITU
- 引用标准
- ITU-T G.703-2001 ITU-T G.987-2012 ITU-T G.987.1-2010 ITU-T G.987.2-2010 ITU-T G.987.3-2010 ITU-T G.783-2006 ITU-T G.Sup48-2010 ITU-T O.3-1992 ITU-T O.172-2005
- 适用范围
- The test instrumentation consists principally of a jitter measurement function and a jitter generation function. Measurements can be performed at the physical layer of XG-PON systems. A bit-error rate test set may also be required for certain types of measurements; this may be part of the same instrumentation or it may be physically separate. Test instrumentation for the generation and measurement of jitter in digital systems based on Synchronous Digital Hierarchy (SDH) is specified in ITU-T Rec. O.172. It is recommended that ITU-T Rec G.987.2 should be read in conjunction with this Recommendation.