JIS K0189-2013
微束分析.电子探针显微分析.波长色散X射线光谱学用实验参数的测定

Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Determination of experimental parameters for wavelength dispersive X-ray spectroscopy

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标准号

JIS K0189-2013

发布日期

2013年07月22日

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

N33

国际标准分类号

71.040.50

发布单位

JP-JISC

引用标准

JIS Q17025