GB/T 5594.3-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法已作废

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for mean coefficient of linear expansion

GB/T 5594.3-1985 发布历史

本标准适用于测量室温至800℃各个阶段中电子元器件结构陶瓷的平均线膨胀系数。

GB/T 5594.3-1985由国家质检总局 CN-GB 发布于 1985-11-27，并于 1986-12-01 实施，于 2016-01-01 废止。

GB/T 5594.3-1985的历代版本如下：

• 1985年11月27日 GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法
• 2015年05月15日 GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法

GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 于 2015-05-15 变更为 GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法。

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标准号

GB/T 5594.3-1985

发布日期

1985年11月27日

实施日期

1986年12月01日

废止日期

2016-01-01

中国标准分类号

L32

国际标准分类号

31.030

发布单位

CN-GB

代替标准

GB/T 5594.3-2015

适用范围

本标准适用于测量室温至800℃各个阶段中电子元器件结构陶瓷的平均线膨胀系数。

GB/T 5594.3-1985系列标准

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