本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的要求、测试方法、检验规则标志、包装.运输和贮存。 本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(以下简称“基片>的生产和采购,采用薄膜工艺的片式元件用氧化館陶瓷基片也可參照使用。
GB/T 14620-2013由国家质检总局 CN-GB 发布于 2013-11-12,并于 2014-04-15 实施。
GB/T 14620-2013 在中国标准分类中归属于: L57 膜集成电路。
* 在 GB/T 14620-2013 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。
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